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國(guó)產(chǎn)掃描電鏡的成像中襯度是什么？今天小編和大家分享的是國(guó)產(chǎn)掃描電鏡的成像中襯度是什么，具體內(nèi)容如下：首先要知道形成掃描透射像的原理：電子束與薄樣品在國(guó)產(chǎn)掃描電鏡中相互作用時(shí)，會(huì)有部分電子透過樣品，這部分透射電子也可用來(lái)成像，其形成的像就是STEM像即掃描透射像。與透射電鏡相似的是，國(guó)產(chǎn)掃描電鏡的STEM圖像也被分為明場(chǎng)像和暗場(chǎng)像兩種。明場(chǎng)像的探測(cè)器安裝在國(guó)產(chǎn)掃描電鏡樣品的正下方，當(dāng)入射電子束穿過樣品后，散射角度較小的電子經(jīng)過光闌孔選擇后進(jìn)入明場(chǎng)探測(cè)器形成透射明場(chǎng)像，散射角比較...

高溫高壓吸附儀帶你了解物理吸附和化學(xué)吸附的區(qū)別根據(jù)吸附劑表面與被吸附物之間作用力的不同，吸附可分為物理吸附與化學(xué)吸附。物理吸附是被吸附的流體分子與固體表面分子間的作用力為分子間吸引力，即所謂的范德華力(Vanderwaals)。因此，物理吸附又稱范德華吸附，它是一種可逆過程。當(dāng)固體表面分子與氣體或液體分子間的引力大于氣體或液體內(nèi)部分子間的引力時(shí)，氣體或液體的分子就被吸附在固體表面上。從分子運(yùn)動(dòng)觀點(diǎn)來(lái)看，這些吸附在固體表面的分子由于分子運(yùn)動(dòng)，也會(huì)從固體表面脫離而進(jìn)入氣體(或液體...

真密度儀采用什么方法為原理來(lái)進(jìn)行檢測(cè)的呢真密度分析儀是由內(nèi)置系統(tǒng)控制的全自動(dòng)運(yùn)行的氣體膨脹法真密度儀，用于分析固體和粉末樣品，但卻很少用這種方法來(lái)分析液體材料。這是因?yàn)槠錅y(cè)量原理是通過測(cè)量系統(tǒng)的壓力來(lái)確定材料的體積并計(jì)算密度，而液體樣品蒸發(fā)所產(chǎn)生的壓力會(huì)降低測(cè)量精度，使得系統(tǒng)可能會(huì)較難達(dá)到平衡。廣泛用于高等院校、研究機(jī)構(gòu)、企業(yè)的材料分析檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，為食品安全、新能源、新材料、環(huán)保、礦產(chǎn)等行業(yè)的材料檢測(cè)提供重要的科學(xué)依據(jù)。真密度儀優(yōu)點(diǎn)：1.全程可控針對(duì)不同樣品特性，真空抽速、預(yù)...

高溫高壓吸附儀使用的靜態(tài)容量法，利用氫氣，甲烷和二氧化碳等氣體獲得高壓吸附和脫附等溫線。容量法技術(shù)引入一定量的已知?dú)怏w(吸附劑)到含有待測(cè)樣品的分析室中，當(dāng)樣品與吸附氣體達(dá)到平衡時(shí)，記錄終的平衡壓力。這些數(shù)據(jù)用來(lái)計(jì)算樣品吸附氣體的量。在設(shè)定的壓力間隔內(nèi)重復(fù)這個(gè)過程，直到達(dá)到預(yù)選的大壓力。然后壓力減少，提供脫等溫線，每個(gè)平衡點(diǎn)(吸附量和平衡壓力)可用于繪制等溫線。通過使用單獨(dú)的傳感器監(jiān)測(cè)歧管和樣品室，獲得良好的重現(xiàn)性和準(zhǔn)確性。高溫高壓吸附儀可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，...

透射電鏡TEM和掃描電鏡SEM有什么不同，到底有哪些差異呢，有結(jié)構(gòu)差異，基本工作原理差異，樣品制備差異，下面跟著小編具體看看TEM和SEM的差異。1、透射電鏡TEM和掃描電鏡SEM的結(jié)構(gòu)差異：主要體現(xiàn)在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡的樣品在電子束中間，電子源在樣品上方發(fā)射電子，經(jīng)過聚光鏡，然后穿透樣品后，有后續(xù)的電磁透鏡繼續(xù)放大電子光束，然后投影在熒光屏幕上；掃描電鏡的樣品在電子束末端，電子源在樣品上方發(fā)射的電子束，經(jīng)過幾級(jí)電磁透鏡縮小，到達(dá)樣品。當(dāng)然后續(xù)的信號(hào)探測(cè)處...